HAST加速老化试验箱检测IC封装|当前时讯

HAST加速老化试验箱检测IC封装  试验箱检测IC封装好处

HAST加速老化试验箱可以用于检测IC封装的可靠性和耐久性。在HAST试验中，IC封装通常会暴露在高温高湿的环境下，以模拟产品在长期使用过程中可能遇到的恶劣条件。通过HAST试验，可以评估IC封装在高温高湿环境下的性能稳定性、封装密封性、焊接接触可靠性等。

在HAST试验中，IC封装通常被放置在试验盒中，然后放入HAST加速老化试验箱中。试验箱会模拟高温高湿环境，并施加一定的压力，以加速封装的老化过程。试验过程中，可以通过监测封装的电性能、物理性能和外观变化来评估其可靠性。常见的测试项目包括封装的漏气性能、焊接接触的可靠性、封装材料的耐湿性和尺寸稳定性等。 需要注意的是，HAST加速老化试验箱虽然可以提供加速老化环境，但并不能全面代替实际长期使用环境下的性能评估。因此，在进行IC封装的可靠性测试时，还需要结合其他实验和实际应用情况来综合评估其性能和可靠性。  一、设备用途：

(资料图片仅供参考)

HAST加速老化试验箱广泛应用于多层电路板、IC封装、液晶屏、LED、半导体、磁性材料、NdFeB、稀土、磁铁等材料的密封性能测试，对上述产品的耐压力和气密性进行测试。

二、设备特点：

1) 采用进口耐高温电磁阀双路结构，在最大程度上降低了使用故障率。

2) 独立蒸汽发生室，避免蒸汽直接冲击产品，以免造成产品局部破坏。

3) 门锁省力结构，解决第一代产品圆盘式手柄的锁紧困难的缺点。

4) 试验前排冷空气；试验中排冷空气设计(试验桶内空气排出)提高压力稳定性、再现性.

5) 超长效实验运转时间，长时间实验机台运转400小时.

6) 水位保护，透过试验室内水位Sensor检知保护.

7) tank耐压设计，箱体耐压力(150℃)，符合水压测试6kg.

8) 二段式压力安全保护装置，采两段式结合控制器与机械式压力保护装置.

9) 安全保护排压钮，警急安全装置二段式自动排压钮 .

10) 偏压测试端子耐压可达3000V(选配）

11) USB导出历史记录数据，曲线.

三、主要技术参数：

设备型号： HE-HAST-40

圆形内箱尺寸： 直径Φ400×深500（mm）

温度范围： +100℃～+132℃( 蒸气温度 )

温度波动度： ±℃

温度显示精度： ℃

湿度范围： 70~100% 蒸气湿度

湿度控制稳定度： ±3%RH

使用压力： ~(含1atm)

压力波动均匀度： ±

时间范围： 0 Hr～999Hr

加压时间： Kg～ Kg/cm²  约 45 分

控制器： PLC可程式彩色触摸屏控制

内桶材质： SUS316#不锈钢板

外箱材质： SECC冷钢板高温烤漆处理

使用电源： 单相 220V  20A  50/60Hz

安全保护： 超压保护，超温保护，缺水保护等

水质要求： 纯水或蒸馏水（用户自备）

HAST加速老化试验箱对于IC封装的检测有以下好处：

1.加速老化：HAST试验箱能够提供高温高湿的环境，可以加速IC封装的老化过程。通过在短时间内模拟长期使用环境下的恶劣条件，可以更快地评估封装的可靠性和耐久性。

2.提前发现问题：HAST试验箱可以暴露IC封装在高温高湿环境下的潜在问题，如焊接接触可靠性、封装材料的耐湿性等。通过及早发现问题，可以采取相应的措施来改进封装设计或材料选择，提高产品的质量和可靠性。

3.降低产品故障率：通过HAST试验箱对IC封装进行可靠性测试，可以筛选出不合格的封装，减少不良品流入市场，提高产品的可靠性和稳定性，降低故障率。

4.节约时间和成本：相比于长期实际使用条件下的老化测试，使用HAST试验箱可以在较短的时间内进行评估，节约了测试时间和成本。同时，HAST试验箱还可以进行多个样品的同时测试，提高了测试效率。 总之，HAST加速老化试验箱能够快速、高效地评估IC封装的可靠性和耐久性，帮助厂商提前发现潜在问题，改进设计和制造工艺，提高产品的质量和可靠性。

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